第三種電気主任技術者（電験三種） 過去問
令和8年度（2026年）上期
問80 (法規 問16)
問題文
高圧進相コンデンサの劣化診断について、次の問に答えよ。
この設問は、前問【◆◆◆注意：前問へのリンク要◆◆◆】 の続きの設問となります。
前問の測定により、劣化による内部素子の破壊（短絡）が発生していると判断し、機器停止のうえ各相間の静電容量を2端子測定法（1端子開放で測定）で測定した。
図2のとおりの内部結線における素子破壊（素子極間短絡）が発生しているとすれば、静電容量測定結果の記述として、正しいものを次のうちから一つ選べ。ただし、図中✕印は、破壊素子を表す。
この設問は、前問【◆◆◆注意：前問へのリンク要◆◆◆】 の続きの設問となります。
前問の測定により、劣化による内部素子の破壊（短絡）が発生していると判断し、機器停止のうえ各相間の静電容量を2端子測定法（1端子開放で測定）で測定した。
図2のとおりの内部結線における素子破壊（素子極間短絡）が発生しているとすれば、静電容量測定結果の記述として、正しいものを次のうちから一つ選べ。ただし、図中✕印は、破壊素子を表す。
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問題
第三種電気主任技術者（電験三種）試験 令和8年度（2026年）上期 問80（法規 問16） （訂正依頼・報告はこちら）
高圧進相コンデンサの劣化診断について、次の問に答えよ。
この設問は、前問【◆◆◆注意：前問へのリンク要◆◆◆】 の続きの設問となります。
前問の測定により、劣化による内部素子の破壊（短絡）が発生していると判断し、機器停止のうえ各相間の静電容量を2端子測定法（1端子開放で測定）で測定した。
図2のとおりの内部結線における素子破壊（素子極間短絡）が発生しているとすれば、静電容量測定結果の記述として、正しいものを次のうちから一つ選べ。ただし、図中✕印は、破壊素子を表す。
この設問は、前問【◆◆◆注意：前問へのリンク要◆◆◆】 の続きの設問となります。
前問の測定により、劣化による内部素子の破壊（短絡）が発生していると判断し、機器停止のうえ各相間の静電容量を2端子測定法（1端子開放で測定）で測定した。
図2のとおりの内部結線における素子破壊（素子極間短絡）が発生しているとすれば、静電容量測定結果の記述として、正しいものを次のうちから一つ選べ。ただし、図中✕印は、破壊素子を表す。
- R−S相間の測定値は、最も小さい。
- S−T相間の測定値は、最も小さい。
- T−R相間は、測定不能である。
- R−S相間の測定値は、S−T相間の測定値の約75％である。
- R−S相間とS−T相間の測定値は、等しい。
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